IR主要指标（Bruker LUMOS）及功能特色
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主要指标：

  • 同轴光路，光学辅助下全自动显微透射、反射、ATR测试，配漫反射附件。

  • 光谱范围：ZnSe分光系统7000-600 cm-1。

  • 光谱分辨率：2 cm-1。

  • 检测器：DigiTectTM中带MCT检测器、室温DLaTGS检测器（漫反射）。

  • 光学系统：物镜WD 30 mm、最高32倍（光学8X），500万像素CCD、视场1.5×1.2 mm，透反白光照明与透反偏振观察。

  • 自动样品台： 50×75 mm，精度0.1 μm，Z方向升降距离43 mm。

  • 空间分辨率：优于3X3 μm。

  • ATR（衰减全反射）：Ge晶体尺寸100 μm，自动控制带三档压力保护。

  • 数据库：ATR及红外数据库（约26,000张，含行业化学品、高分子、生化品、药物、矿物）。


功能特色：高度自动化&开放样品台

  • 自动控制ATR晶体；

  • 自动控制透明刀口光阑；

  • 自动控制聚焦镜，偏振组件；

  • 自动控制红外、可见模式切换；

  • 自动控制红外、可见模式数值孔径；

  • 自动控制样品台与Z方向聚焦；

  • 电子识别样品台；

  • 物镜工作距离：30 mm；

  • 样品台Z轴移动距离：43 mm；

  • 适合大体积样品或可调样品架。

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智能物镜&自动ATR

  • 可见光视场1.5×1.2 mm；

  • 高精度、透明刀口光阑；

  • 红外视场125×125 µm到5×5 µm；

  • 自动操作的ATR镜头；

  • 晶体材质：Ge；

  • 晶体尺寸：100 µm；

  • ATR视场30×30 µm到1.3×1.3 µm

  • ATR测量3档压力可选，保证紧密接触样品。

  • 压力传感器位于晶体杆正上方，可以有效感应样品压力。


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