传统冷热台技术仅针对薄片与粉末等样品,不适用DAC。
传统DAC在测试中仅实时控制压力因素。
通过改进附件实现可控温度、压力下的DAC研究。
使用水冷分析RT-400℃,结合Ar气保护可分析至600℃。
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