主要指标：
3独立光路4激光器（紫外到近红外），低波数达到50并可做PL，配备连续扫描、大面积快速扫描，共焦功能实现三维测试。
光谱性能：可见全谱段分辨率优于1 cm-1、紫外优于2 cm-1； 硅一阶峰重复性好于0.1 cm-1；硅三阶峰信噪比好于 20:1。
光谱范围与激光器：325 nm (30 mW UV，200-21000 cm-1 )，532 nm ( 50 mW，50-9000 cm-1 )、633 nm ( 17 mW， 50-6000 cm-1 ） 、785 nm ( 300 mW，50-3500 cm-1 )。
空间分辨率：XY平面优于0.5 μm，Z方向2 μm（高共焦，100X物镜）。
自动样品台： 100×70 mm，重复精度0.1 μm。
物镜：5X、20X、50X、100X、20X超长焦 (WD 25 mm)、50X长焦 (WD 8.2 mm)、40X UV、63X水镜、100X油镜。透反白光照明、透反偏振、落射荧光 (DAPI LP、FITC LP、RHOD LP)。
数据库：雷尼绍矿物&高分子数据库，可自建谱库与检索。
功能特色：
1.独立优化光路&高精度控制
多路激光器分立光路；
各波长独立优化；
全自动存储、调节与切换光路；
全自动切换光路与自动准直；
精密控制技术，如动态三点定位技术与驱动控制光栅尺技术；
光栅转台、滤光片转台、三维平台配置光栅尺反馈系统，重复精度提高10倍。
光谱重复性优于0.1 cm-1，稳定性优于0.01 cm-1。
2.快速扫描成像&三维重构
Streamline Plus专利技术；
线扫描结合大面积CCD同时获得复数条拉曼光谱；
实现大面积快速拉曼扫描成像，成像均匀一致、无拼接；
同时适用于厘米级大面积以及微米级显微样品；
相比传统单点模式mapping，速度提高100倍；
样品成分的检索与目标成分的面分布、三维空间分布重构。
13611330937