扫描电镜（SEM）
服务详情
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观
扫描电子显微镜
察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是，①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析，因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
项目介绍
所用仪器：场发射扫描电镜
依据标准号：JY/T 010-1996
依据标准号：JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
实验室信息3
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