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X射线光电子能谱分析(XPS)

X射线光电子能谱分析（XPS）

编辑：佚名 点击： 来源:本站原创 发布时间：2013年10月30日

固体样品面积≤1.0cm2（<8*8mm）,  高（厚）度≤1.0mm，厚度6mm，有平面。X光打样深度：1-10nm。粉末固体样品10-100mg；样品要求真空干燥，不含腐蚀性、易挥发、磁性及放射性物质；请注明样品保存条件（常规、干燥、冷冻、冷藏、避光或其他）；.XPS可以对H、He外的其它元素进行定性、半定量和化学态分析，检出限是原子百分含量在0.1~1%以上，不同元素检出限不同；一次可分析所有元素。

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