纳米粉末粒度分布测定

粒度分布    纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法
                   GB/T 13221-2004

纳米微粒(超细微粒)的尺度介于原子，分子和块状物体之间，通常泛指尺度在几个至儿百纳米范围内的微小颗粒，属于微观粒子与宏观物体交界的过渡区域。测定纳米微粒的粒度分布，是研究和分析微粒有关物理变化的基础，也是改进超细微粒的制备工艺和开拓应用领域的重要环节。
　　当一束极细的X 射线穿过存在着纳米尺寸的电子密度不均匀区的物质时,X 射线将在原光束方向附近的很小角域(一般散射角2θ<3°) 散开,其强度一般随2θ增大而减小,这个现象就称为小角X 射线散射(small angle X-ray scattering , SAXS)。小角X射线散射是发生的在原光束附近小角度范围内的电子相干散射,凡是存在纳米尺度的电子密度不均匀区的物质均会产生小角X 光散射现象,其散射强度分布与粉末的粒度及其分布密切相关，因此小角X射线散射是表征纳米、多孔材料结构的理想手段。
　　SAXS可以解析散射体粒子体系或多孔体系的结构，如SAXS在煤、炭等多孔材料中已得到广泛的应用, 可用于测定孔径分布、比表面、分形维数等, 有助于了解其结构及性能。并且SAXS 是一种非破坏性的分析方法；对样品的适用范围宽, 不管是干态还是湿态都适用；不管是开孔还是闭孔, SAXS 都能检测到。目前, SAXS 已广泛应用于物理、化学、生物、材料等领域。