碳素材料微观结构测定

 QJ 2507-93  碳素材料微观结构参数测试方法
　　　　　　石墨化度测定

本标准适用于碳/碳复合材料及其他碳素材料的微观结构参数测定，用X射线衍射方法测定表征碳素材料石墨化程度的晶面间距、微晶厚度及宽度等微观结构参数。

当波长一定的x谁安入射到晶体上时，晶体中相邻晶面产生衍射，最相邻两个晶面间的距离即晶面间距用d(hkl)来表示，其中hkl为晶面指标，晶面间距可按照布拉格公式计算，碳素材料d（002）和d（004）是表征碳素材料（004）（002）晶面石墨化程度的基本参数。

通过测定（002）（004）晶面衍射曲线和（110）晶面衍射曲线的半高宽，利用公式可求出碳素材料的微晶厚度（Lc（002））和宽度（La（110）），Lc（002）和Lc（004）主要用于表征碳素材料（002）晶面和（004）晶面在c轴方向的微晶厚度，La（110）用于表征碳素材料在（110）晶面在a轴方向的微晶宽度。

碳素材料是一种新兴的材料，它包括炭和石墨材料、炭黑、活性炭等，它们是由各种含碳量较高的原料(即碳素原料，如煤炭、石油、天然气等)经地定系列加工工艺(主要是锻烧、焙烧和石墨化等炭化过程)所制成的。我国是世界上最早利用碳素材料的国家，其应用已有悠久的历史， 目前碳素材料不仅广泛应用于印刷、电极、冶金、化工等行业，而且在航空、电子、海洋、航天等部门也可人作为工程和结构材料，研究表明：石墨微晶结构规整度与表面微观形貌是影响碳素材料性能差异的主要因素。