Rietveld分析

Rietveld方法是一种完全在正空间中利用粉晶衍射数据和图形拟合来测定和修正晶体结构的方法。由于粉晶衍射数据的局限性，利用X射线粉晶衍射测定完全未知的结构仍有困难，但是对于不太复杂的结构，通过改进试验方法，提高X射线粉晶衍射数据的质量，仍然可以获得其结构。粉晶衍射结构测定方法有：同构模型法、傅里叶差值法、尝试法、计算机模拟的蒙特-卡洛法、体系能量最小法、最大熵法、从头计算法等。粉晶衍射晶体结构测定通常遵循如下步骤：新相衍射线的测定，衍射图谱的指标化，晶胞参数的精确测定，单胞的原子数、理想分子式和空间群的确定，等效点系组合和原子参数的测定，Rietveld峰形拟合修正晶体结构和可信度因子的计算，结构键长和键角的计算，对于离子晶体用价键理论评估结构的合理性，绘制晶体结构图和重要的原子配位多面体，以及讨论新相结构与物相和其他晶体结构的关系等。