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膜厚测定

编辑:佚名 点击: 来源:本站原创 发布时间:2013年12月07日

X射线穿过物质时强度会衰减,这是因为X射线同物质相互作用时发生了多种复杂的物理、化学过程,从而引起一些效应转移了入射线的部分能量。X射线穿透物质后的强度衰减与射线在物质中经过的距离成正比。

I=I0    N=N

I为透射光束强度,t为试样厚度,μt称为该物体的线性衰减系数,N0为入射的光子数,N为透射出的光子数。上式为X射线吸收法测密度或厚度的依据。